લેસર ડિસ્ટન્સ માપન મોડ્યુલોનું બીમ ડાયવર્જન્સ અને માપન કામગીરી પર તેની અસર

લેસર ડિસ્ટન્સ માપન મોડ્યુલો એ ઉચ્ચ-ચોકસાઇવાળા સાધનો છે જેમ કે સ્વાયત્ત ડ્રાઇવિંગ, ડ્રોન, industrial દ્યોગિક ઓટોમેશન અને રોબોટિક્સ જેવા ક્ષેત્રોમાં વ્યાપકપણે ઉપયોગ થાય છે. આ મોડ્યુલોના કાર્યકારી સિદ્ધાંતમાં સામાન્ય રીતે લેસર બીમ ઉત્સર્જન કરવું અને પ્રતિબિંબિત પ્રકાશ પ્રાપ્ત કરીને object બ્જેક્ટ અને સેન્સર વચ્ચેનું અંતર માપવાનો સમાવેશ થાય છે. લેસર ડિસ્ટન્સ માપન મોડ્યુલોના વિવિધ પ્રભાવ પરિમાણોમાં, બીમ ડાયવર્જન્સ એ એક નિર્ણાયક પરિબળ છે જે માપનની ચોકસાઈ, માપન શ્રેણી અને એપ્લિકેશનના દૃશ્યોની પસંદગીને સીધી અસર કરે છે.

1. બીમ ડાયવર્જન્સની મૂળભૂત વિભાવના

બીમ ડાયવર્જન્સ એ એંગલનો સંદર્ભ આપે છે કે જેના પર લેસર બીમ ક્રોસ-વિભાગીય કદમાં વધે છે કારણ કે તે લેસર ઇમીટરથી વધુ મુસાફરી કરે છે. સરળ શબ્દોમાં, બીમ ડાયવર્જન્સ જેટલું નાનું છે, તે પ્રસાર દરમિયાન લેસર બીમ વધુ કેન્દ્રિત છે; તેનાથી વિપરિત, બીમ ડાયવર્જન્સ જેટલું મોટું છે, તેટલું વિશાળ બીમ ફેલાય છે. વ્યવહારિક એપ્લિકેશનોમાં, બીમ ડાયવર્જન્સ સામાન્ય રીતે એંગલ્સ (ડિગ્રી અથવા મિલિરાડિયનો) માં વ્યક્ત થાય છે.

લેસર બીમનું વિક્ષેપ એ નક્કી કરે છે કે તે આપેલ અંતર પર કેટલું ફેલાય છે, જે બદલામાં લક્ષ્ય object બ્જેક્ટ પરના સ્થળના કદને અસર કરે છે. જો ડાયવર્જન્સ ખૂબ મોટું હોય, તો બીમ લાંબા અંતર પર મોટા ક્ષેત્રને આવરી લેશે, જે માપનની ચોકસાઈ ઘટાડી શકે છે. બીજી બાજુ, જો ડાયવર્ઝન ખૂબ નાનું હોય, તો બીમ લાંબા અંતર પર ખૂબ ધ્યાન કેન્દ્રિત કરી શકે છે, જેનાથી યોગ્ય રીતે પ્રતિબિંબિત કરવું મુશ્કેલ બને છે અથવા પ્રતિબિંબિત સિગ્નલની પ્રાપ્તિને અટકાવી શકે છે. તેથી, લેસર અંતર માપન મોડ્યુલની ચોકસાઈ અને એપ્લિકેશન શ્રેણી માટે યોગ્ય બીમ ડાયવર્જન્સ પસંદ કરવું નિર્ણાયક છે.

2. લેસર અંતર માપન મોડ્યુલ પ્રદર્શન પર બીમ ડાયવર્ઝનની અસર

બીમ ડાયવર્જન્સ સીધા લેસર અંતર મોડ્યુલની માપનની ચોકસાઈને અસર કરે છે. મોટા બીમ ડાયવર્જન્સ મોટા સ્પોટ કદમાં પરિણમે છે, જે છૂટાછવાયા પ્રતિબિંબિત પ્રકાશ અને અચોક્કસ માપન તરફ દોરી શકે છે. લાંબા અંતર પર, મોટા સ્થળનું કદ પ્રતિબિંબિત પ્રકાશને નબળું કરી શકે છે, સેન્સર દ્વારા પ્રાપ્ત સિગ્નલ ગુણવત્તાને અસર કરે છે, આમ માપનની ભૂલો વધે છે. તેનાથી વિપરિત, એક નાનો બીમ ડાયવર્જન્સ લેસર બીમને લાંબા અંતર પર કેન્દ્રિત રાખે છે, પરિણામે નાના સ્પોટ કદ અને તેથી વધુ માપનની ચોકસાઈ આવે છે. લેસર સ્કેનીંગ અને ચોક્કસ સ્થાનિકીકરણ જેવી ઉચ્ચ ચોકસાઇની આવશ્યકતાવાળી એપ્લિકેશનો માટે, એક નાનો બીમ ડાયવર્જન્સ સામાન્ય રીતે પસંદગીની પસંદગી છે.

બીમ ડાયવર્જન્સ પણ માપન શ્રેણી સાથે નજીકથી સંબંધિત છે. મોટા બીમ ડાયવર્જન્સવાળા લેસર ડિસ્ટન્સ મોડ્યુલો માટે, લેસર બીમ લાંબા અંતર પર ઝડપથી ફેલાય છે, પ્રતિબિંબિત સિગ્નલને નબળી પાડશે અને આખરે અસરકારક માપન શ્રેણીને મર્યાદિત કરશે. વધારામાં, મોટા સ્થળનું કદ પ્રતિબિંબિત પ્રકાશને બહુવિધ દિશાઓથી આવવાનું કારણ બની શકે છે, જેનાથી સેન્સરને લક્ષ્યમાંથી સિગ્નલ પ્રાપ્ત કરવું મુશ્કેલ બને છે, જે બદલામાં માપનના પરિણામોને અસર કરે છે.

બીજી બાજુ, એક નાનો બીમ ડાયવર્જન્સ લેસર બીમને કેન્દ્રિત રહેવામાં મદદ કરે છે, તે સુનિશ્ચિત કરે છે કે પ્રતિબિંબિત પ્રકાશ મજબૂત રહે છે અને તેથી અસરકારક માપન શ્રેણીને વિસ્તૃત કરે છે. તેથી, લેસર અંતર માપન મોડ્યુલનું બીમ ડાયવર્જન્સ જેટલું નાનું છે, વધુ અસરકારક માપન શ્રેણી સામાન્ય રીતે વિસ્તરે છે.

બીમ ડાયવર્જન્સની પસંદગી પણ લેસર ડિસ્ટન્સ માપન મોડ્યુલના એપ્લિકેશન દૃશ્ય સાથે નજીકથી બંધાયેલ છે. લાંબા અંતરની અને ઉચ્ચ-ચોકસાઇના માપદંડોની આવશ્યકતાવાળા દૃશ્યો માટે (જેમ કે સ્વાયત્ત ડ્રાઇવિંગમાં અવરોધ તપાસ, લિડર), નાના બીમ ડાઇવર્જન્સવાળા મોડ્યુલ સામાન્ય રીતે લાંબા અંતર પર સચોટ માપનની ખાતરી કરવા માટે પસંદ કરવામાં આવે છે.

ટૂંકા-અંતરના માપન, સ્કેનીંગ અથવા કેટલાક industrial દ્યોગિક ઓટોમેશન સિસ્ટમ્સ માટે, મોટા બીમ ડાયવર્જન્સવાળા મોડ્યુલને કવરેજ ક્ષેત્ર વધારવા અને માપનની કાર્યક્ષમતામાં સુધારો કરવા માટે પસંદ કરી શકાય છે.

બીમ ડાયવર્જન્સ પર્યાવરણીય પરિસ્થિતિઓથી પણ પ્રભાવિત છે. મજબૂત પ્રતિબિંબીત લાક્ષણિકતાઓ (જેમ કે industrial દ્યોગિક ઉત્પાદન લાઇન અથવા બિલ્ડિંગ સ્કેનીંગ) સાથેના જટિલ વાતાવરણમાં, લેસર બીમનો ફેલાવો પ્રકાશના પ્રતિબિંબ અને સ્વાગતને અસર કરી શકે છે. આવા કિસ્સાઓમાં, મોટા બીમના ડાયવર્જન્સ મોટા ક્ષેત્રને આવરી લેવામાં, પ્રાપ્ત સિગ્નલની શક્તિમાં વધારો કરીને અને પર્યાવરણીય દખલને ઘટાડીને મદદ કરી શકે છે. બીજી બાજુ, સ્પષ્ટ, અવરોધ વિનાના વાતાવરણમાં, એક નાનો બીમ ડાયવર્જન્સ લક્ષ્ય પર માપને કેન્દ્રિત કરવામાં મદદ કરી શકે છે, આમ ભૂલો ઘટાડે છે.

3. બીમ ડાયવર્જન્સની પસંદગી અને ડિઝાઇન

લેસર ડિસ્ટન્સ માપન મોડ્યુલનું બીમ ડાયવર્જન્સ સામાન્ય રીતે લેસર ઇમીટરની રચના દ્વારા નક્કી કરવામાં આવે છે. વિવિધ એપ્લિકેશન દૃશ્યો અને આવશ્યકતાઓ બીમ ડાયવર્જન્સ ડિઝાઇનમાં ભિન્નતામાં પરિણમે છે. નીચે ઘણા સામાન્ય એપ્લિકેશન દૃશ્યો અને તેનાથી સંબંધિત બીમ ડાયવર્જન્સ પસંદગીઓ છે:

• ઉચ્ચ ચોકસાઇ અને લાંબા અંતરની માપન:

ઉચ્ચ ચોકસાઇ અને લાંબા માપનના અંતર (જેમ કે ચોક્કસ માપન, લિડર અને સ્વાયત્ત ડ્રાઇવિંગ) બંનેની આવશ્યકતા માટે, સામાન્ય રીતે નાના બીમ ડાયવર્જન્સ પસંદ કરવામાં આવે છે. આ સુનિશ્ચિત કરે છે કે લેસર બીમ લાંબા અંતરથી નાના સ્પોટ કદને જાળવી રાખે છે, બંને માપનની ચોકસાઈ અને શ્રેણીમાં વધારો કરે છે. ઉદાહરણ તરીકે, સ્વાયત્ત ડ્રાઇવિંગમાં, દૂરના અવરોધોને સચોટ રીતે શોધવા માટે, લિડર સિસ્ટમ્સના બીમ ડાયવર્જન્સને સામાન્ય રીતે 1 ° ની નીચે રાખવામાં આવે છે.

• નીચી ચોકસાઇ આવશ્યકતાઓ સાથે મોટું કવરેજ:

દૃશ્યોમાં જ્યાં મોટા કવરેજ ક્ષેત્રની આવશ્યકતા હોય છે, પરંતુ ચોકસાઇ એટલી જટિલ નથી (જેમ કે રોબોટ સ્થાનિકીકરણ અને પર્યાવરણીય સ્કેનિંગ), મોટા બીમ ડાયવર્જન્સ સામાન્ય રીતે પસંદ કરવામાં આવે છે. આ લેસર બીમને વિશાળ ક્ષેત્રને આવરી લેવાની મંજૂરી આપે છે, ઉપકરણની સંવેદનાની ક્ષમતાઓને વધારશે, અને તેને ઝડપી સ્કેનીંગ અથવા મોટા ક્ષેત્રની તપાસ માટે યોગ્ય બનાવે છે.

• ઇન્ડોર ટૂંકા-અંતરની માપન:

ઇનડોર અથવા ટૂંકા-અંતરના માપન માટે, મોટા બીમ ડાયવર્જન્સ અયોગ્ય પ્રતિબિંબ એંગલ્સને કારણે માપનની ભૂલો ઘટાડીને, લેસર બીમના કવરેજને વધારવામાં મદદ કરી શકે છે. આવા કિસ્સાઓમાં, મોટા બીમ ડાયવર્જન્સ સ્પોટ કદમાં વધારો કરીને સ્થિર માપનના પરિણામોની ખાતરી કરી શકે છે.

4. નિષ્કર્ષ

બીમ ડાયવર્જન્સ એ લેસર ડિસ્ટન્સ માપન મોડ્યુલોના પ્રભાવને અસર કરતી મુખ્ય પરિબળોમાંનું એક છે. તે સીધી માપન ચોકસાઈ, માપન શ્રેણી અને એપ્લિકેશન દૃશ્યોની પસંદગીને પ્રભાવિત કરે છે. બીમ ડાયવર્જન્સની યોગ્ય રચના લેસર અંતર માપન મોડ્યુલના એકંદર પ્રભાવને વધારી શકે છે, વિવિધ એપ્લિકેશનોમાં તેની સ્થિરતા અને કાર્યક્ષમતાને સુનિશ્ચિત કરે છે. જેમ જેમ લેસર અંતર માપન તકનીક વિકસિત થવાનું ચાલુ રાખે છે, બીમ ડાયવર્જન્સને optim પ્ટિમાઇઝ કરવું એ આ મોડ્યુલોની એપ્લિકેશન શ્રેણી અને માપન ક્ષમતાઓને વિસ્તૃત કરવા માટે એક મહત્વપૂર્ણ પરિબળ બનશે.

લૂમિસ્પોટ

સરનામું: બિલ્ડિંગ 4 #, નં .99 ફ્યુરોંગ 3 જી રોડ, ઝીશન જિ. વુક્સી, 214000, ચીન

ટેલ: + 86-0510 87381808.

મોબાઇલ: + 86-15072320922

Email: sales@lumispot.cn